Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB

Filters

5
2
5
5
Reset filters

Settings
Now showing 1 - 5 of 5
  • Publication
    OCM 2019, 4th International Conference on Optical Characterization of Materials
    (KIT Scientific Publishing, 2019)
    Beyerer, Jürgen
    ;
    Puente Leon, Fernando
    ;
    Längle, Thomas
    Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.
  • Publication
    OCM 2015, 2nd International Conference on Optical Characterization of Materials
    (KIT Scientific Publishing, 2015)
    Beyerer, Jürgen
    ;
    Puente Leon, Fernando
    ;
    Längle, Thomas
    Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.
  • Publication
    Forum Bildverarbeitung 2014
    (KIT Scientific Publishing, 2014)
    Puente Leon, Fernando
    ;
    Heizmann, Michael
    Bildverarbeitung spielt in vielen Bereichen der Technik zur schnellen und berührungslosen Datenerfassung eine Schlüsselrolle und hat sich in vielen Anwendungen einen unverzichtbaren Platz erobert. Von besonderer Bedeutung ist dabei eine zielführende Verarbeitung der erfassten Bildsignale. Das "Forum Bildverarbeitung 2014" greift diese hochaktuellen Entwicklungen sowohl hinsichtlich der theoretischen Grundlagen, Beschreibungsansätze und Werkzeuge als auch relevanter Anwendungen auf.
  • Publication
    OCM 2013, Optical characterization of materials. Conference proceedings
    (KIT Scientific Publishing, 2013)
    Beyerer, Jürgen
    ;
    Puente Leon, Fernando
    ;
    Längle, Thomas
    The state of the art in optical characterization of materials is advancing rapidly. New insights into the theoretical foundations of this research field have been gained and exciting practical developments have taken place, both driven by novel applications that are constantly emerging. This book presents latest research results in the domain of Characterization of Materials by spectral characteristics of UV (240 nm) to IR (14 µm), multispectral image analysis, X-Ray, polarimetry and microscopy.
  • Publication
    Forum Bildverarbeitung 2012
    (KIT Scientific Publishing, 2012)
    Puente Leon, Fernando
    ;
    Heizmann, Michael
    Bildverarbeitung spielt in vielen Bereichen der Technik zur effizienten und objektiven Informationserfassung eine Schlüsselrolle und hat sich in vielen Anwendungen einen unverzichtbaren Platz erobert. Von besonderer Bedeutung ist dabei eine zielführende Verarbeitung der erfassten Bildsignale. Das "Forum Bildverarbeitung 2012" greift diese hochaktuellen Entwicklungen sowohl hinsichtlich der theoretischen Grundlagen, Beschreibungsansätze und Werkzeuge als auch relevanter Anwendungen auf.