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    Direct-imaging DOEs for high-NA multi-spot confocal surface measurement
    Diffractive lens arrays with overlapping apertures can produce spot arrays with high numerical apertures (NAs). Combined with low-NA objectives, they can measure a large area with high lateral resolution. However, for surface measurements, the axial resolution of such setups is still fundamentally limited by the objectives. In this work, we propose a new design of diffractive optical elements (DOEs) to overcome this problem. The proposed Direct-imaging DOEs can perform 3D high-NA multi-spot surface measurements. Laterally, a non-vanishing contrast up to 1448 lp/mm is measured with a USAF resolution target. Axially, an average height of 917.5 nm with a standard deviation of 49.9 nm is measured with a calibrated step height target of 925.5 nm.
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    Sensitivity enhanced roll-angle sensor by means of a quarter-waveplate
    Attitude metrology (roll, pitch, and yaw) playsan important role in many different fields. Roll angle is con-sidered the most difficult measurement quantity in angulardisplacements compared to pitch and yaw angles becausethe rotation axis of the roll angle is parallel to the probebeam. In this work, a sensitivity enhanced roll-angle sensor is presented. The principle is based on the polarizationchange of a sensing unit (quarter-waveplate). The polarization model is analyzed by Mueller matrix formalism. TheStokes parameters are detected by a Stokes polarimeter.The novel coaxial design improves the sensitivity and reduce the complexity of optical system alignment by meansof a fixed quarter-waveplate. The proposed sensor providesa simple setup to measure roll angles with a high sensitivity of 0.006∘ and a long unambiguous measurement range of 180∘.
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    Light field illumination. Problem-specific lighting adjustment
    Choosing a proper lighting approach is a crucial task in designing visual inspection systems. It becomes especially challenging for complex-shaped, transparent objects, which change the directional distribution of incoming light in various ways. We overcome this challenge by constructing a light field display and deploy it as a highly tunable lighting device. Thereby, an object-specific light field can be generated, which highlights the features of the object under test with maximum contrast. We explain the calibration procedure, the rendering pipeline and present examples of customized illuminations.
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    Direct-imaging DOEs for high-NA multi-spot confocal microscopy
    Diffractive lens arrays with overlapping apertures can produce spots with high numerical apertures (NAs). Such diffractive optical elements (DOEs) can replace high-NA objectives and measure a large area with high resolution in transmission microscopes. However, in reflection microscopes for surface measurements, the axial resolution is still limited by the objectives. Direct-imaging DOEs are proposed to solve the problem. They can perform high-NA multi-spot measurement in reflection configurations in both lateral and axial directions. Experiments demonstrate a lateral non-vanishing contrast up to 1448 lp/mm and an axial response on a plane mirror with a full width at half maximum (FWHM) of 2.24 mm.
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    Ellipsometric inline inspection of dielectric substrates with nonplanar surfaces
    An analytical solution for the determination of either angle of incidence (AOI) and the refractive index from combined ellipsometric and reflectometric measurements at dielectric substrates is presented. The solution is of special importance for retroreflex ellipsometry (but not limited to this application). Overcoming the geometric restrictions of conventional ellipsometers, the patented retroreflex ellipsometry can detect changes of intensity and the state of polarization in or at test objects even with curved surfaces. In contrast to conventional ellipsometers where the AOI is set by the adjustment procedure, the AOI is usually unknown in retroreflex ellipsometry. For quantitative analysis, the knowledge of the AOI is nevertheless essential. The proposed combination of retroreflex-reflectometry and retroreflex-ellipsometry opens the path to precise measurements of either surface geometry and index of refraction of nonplanar dielectric substrates (e. g. surfaces of freeform optics).
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    Measurement of ellipsometric data and surface orientations by modulated circular polarized light
    Ellipsometry is a widely used optical method for the characterization of materials and thin films. However, only flat or nearly flat surfaces can be measured since small deviations of the angle of incidence might lead to significant experimental errors. In order to overcome the geometrical limitations of ellipsometry, the retroreflex ellipsometry developed at Fraunhofer IOSB is used. Based on this configuration, a new illumination method is proposed. When the sample is illuminated by modulated circular polarized light (LCP and RCP), the ellipsometric parameters (PS, D) and the tilted angle (F) can be determined directly. Combined with reflectance measurement or prior knowledge of optical properties of samples, the surface orientation can be obtained.
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    Kalibrierfreie 3D-Rekonstruktion von gekrümmten Oberflächen mittels orthographischer Projektion unter Verwendung von Reflexionsmarkern
    ( 2019)
    Negara, Christian
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    Die optische Vermessung gekrümmter Oberflächen erfolgt meist über problemspezifische Messverfahren und Algorithmen zur 3D-Rekonstruktion, die an die optischen Eigenschaften der zu untersuchenden Oberfläche angepasst sind. In diesem Artikel wird ein Verfahren zur 3D-Rekonstruktion von Freiformflächen vorgestellt, das das Oberflächenrelief in einem telezentrischen Strahlengang mit einer telezentrischen Abbildungsoptik und einer koaxialen telezentrischen Beleuchtung erfasst. Die untersuchte Oberfläche des Prüflings kann dabei texturiert oder untexturiert und transparent, spiegelnd oder diffus sein. Die Oberfläche wird dabei nicht direkt vermessen, sondern mittels darauf aufgebrachter retroreflektierender Marker rekonstruiert. Da zwischen den Markern keine Messwerte vorliegen, können nur Oberflächen rekonstruiert werden, die eine örtliche Glattheit aufweisen. Mit einem Verfahren für monokulares Stereo werden aus einer Bildserie simultan sowohl die Kameraposen als auch die 3D-Koordinaten der Reflexionsmarker berechnet. Die sonst übliche Kalibrierung der extrinsischen Kameraparameter entfällt. Anschließend wird eine parametrische B-Spline-Oberfläche gefittet, aus der sowohl das Oberflächenrelief als auch die Oberflächennormalen berechnet werden können.
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    Evaluierung und Vergleich von NIR-Multiprodukt-Kalibrierungsverfahren zur Brix-Bestimmung
    Nahinfrarotspektroskopie ist eine etablierte Methode zur Qualitätsbestimmung von Obst und Gemüse. Neue Anwendungsgebiete, wie z. B. die mobile Lebensmittelanalyse mittels handgetragener und preisgünstiger Mikrospektrometer, verlangen nach neuen Ansätzen zur Multiprodukt-Kalibrierung. Zur produktspezifischen Kalibrierung existieren bereits geeignete Methoden wie partial least squares regression (PLSR). Der Versuch von Micklander et al. zeigt jedoch auf, dass die Multiprodukt-Kalibrierung noch eine ungelöste Herausforderung darstellt. Nichtlineare Ansätze wie neuronale Netze und lokale Regression erzielten hier bessere Ergebnisse als konventionelle Methoden wie PLSR. Vorläufige Untersuchungen zur Multiprodukt-Kalibrierung zur quantitativen Analyse von Lebensmitteln mittels NIR Spektroskopie lieferten vielversprechende Ergebnisse durch Memory-Based Learning (MBL) und Classification-Prediction-Hierarchy (CPH). In dieser Arbeit werden drei Ansätze zur Multiprodukt-Kalibrierung untersucht. Hierzu werden drei unterschiedliche Apfelsorten, Birnen und Tomaten mit bekanntem Zuckergehalt (in ○Brix) mittels bildgebender NIR Spektroskopie im Bereich von 900 nm bis 2400 nm analysiert. Die Genauigkeit eines linearen PLSR-Modells und zweier nichtlinearer Modelle (CPH und MBL) sowie unterschiedliche Vorverarbeitungsmethoden werden untersucht und evaluiert. Zur Bestimmung von Fehlermaßen dienen Leave-One-Out- und Leave-One-Product-Out-Kreuzvalidierungen.
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    Motion-based material characterization in sensor-based sorting
    ( 2018) ;
    Pfaff, F.
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    Becker, F.
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    Pieper, C.
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    Noack, B.
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    Kruggel-Emden, H.
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    Hanebeck, U.D.
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    Wirtz, S.
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    Scherer, V.
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    Für die Sortierung von kohäsiven, granularen Materialien entspricht die sensorgestützte Sortierung dem Stand der Technik. Die Auswahl geeigneter Systemkomponenten, wie etwa Sensorik, Beleuchtung, oder die Realisierung der Datenauswertung, orientiert sich bei der Entwicklung entsprechender Systeme an der konkreten Sortieraufgabe, die es zu lösen gilt. Eine Gemeinsamkeit findet sich im Einsatz scannender Sensoren. Jüngst wurde jedoch der Einsatz von Flächenkameras vorgeschlagen. Durch die Beobachtung von Objekten zu mehreren Zeitpunkten besteht die Möglichkeit, deren Bewegungspfade zu verfolgen. Dies erlaubt eine präzise Schätzung der Position und des Zeitpunkts, zu welchem ein Objekt die Trennstufe des Systems erreicht und hilft somit dabei, den Fehler in der physikalischen Separation zu verringern. In dieser Veröffentlichung wird vorgeschlagen, diese Bewegungsinformation ebenfalls zur Charakterisierung von Materialien zu verwenden. Durch die Ableitung geeigneter Merkmale zeigen wir exemplarisch für eine Klassifikationsaufgabe, dass hierdurch gute Ergebnisse erzielt werden können. Der vorgestellte Ansatz trägt damit zur Verringerung des Erkennungsfehlers in Sortiersystemen bei.
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    Compressive shape from focus based on a linear measurement model
    Die Schätzgenauigkeit der herkömmlichen Tiefenmessung mit variablem Fokus ist mit der Anzahl der Bilder im Fokusstapel gekoppelt, und das begrenzt die Messgeschwindigkeit. In diesem Artikel wird eine neuartige komprimierende Methode mit einem beispielhaften Algorithmus basierend auf einem modifizierten Laplace-Operator und der Hauptkomponentenanalyse vorgeschlagen. Die Simulation mit synthetischen Fokusstapeln hat Ergebnisse gezeigt, die mit der herkömmlichen Methode vergleichbar sind. Der Test mit 6 komprimiert erfassten Bildern erreicht dieselbe Leistung wie die herkömmliche Methode mit 100 Bildern. Mehrere andere Fokusmessalgorithmen werden auch unter dem Kompressionsschema implementiert und getestet, was die breite Anwendbarkeit des vorgeschlagenen Verfahrens demonstriert.