1991
Anthology
Title

Präparative und mikroskopische Verfahren in der Materialprüfung

Title Supplement
Grundlagen, angewandte Mikroskopie
Person Involved
Jörg, F.
Corporate Author
Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie -ICT-, Pfinztal
Publisher
Publishing Place
Landsberg/Lech
Language
German
Keyword(s)