• English
  • Deutsch
  • Log In
    Password Login
    Research Outputs
    Fundings & Projects
    Researchers
    Institutes
    Statistics
Repository logo
Fraunhofer-Gesellschaft
  1. Home
  2. Fraunhofer-Gesellschaft
  3. Patente
  4. Verfahren und Vorrichtung zur nichtlinearen Spektroskopie an einer Probe
 
  • Details
Options
Patent
Title

Verfahren und Vorrichtung zur nichtlinearen Spektroskopie an einer Probe

Other Title
Method and device for non-linear spectroscopy of a sample
Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur nichtlinearen optischen Spektroskopie an einer Probe, wobei eine erste Signal- und Idlerstrahlung mittels einer ersten parametrischen Fluoreszenz in einem nichtlinearen optischen Medium erzeugt werden, wobei eine zweite Signal- und Idlerstrahlung mittels einer zweiten parametrischen Fluoreszenz in einem nichtlinearen optischen Medium erzeugt werden, wobei die erste und zweite Idlerstrahlung kohärent zueinander sind, wobei die erste und zweite Signalstrahlung räumlich überlagert werden, wobei die erste Signalstrahlung eine optische Signalweglänge zurücklegt und die erste Idlerstrahlung eine optische Idlerweglänge, wobei eine Weglängendifferenz zwischen der optischen Signalweglänge und der optischen Idlerweglänge geändert wird und wobei ein Weglängeninterferenzmusters einer Intensität ausschließlich der räumlich überlagerten ersten und zweiten Signalstrahlung nach einem räumlichen Überlagern der ersten und zweiten Idlerstrahlung in dem nichtlinearen optischen Medium der zweiten parametrischen Fluoreszenz in Abhängigkeit von der Weglängendifferenz erfasst wird und wobei anschließend ein Frequenzspektrums der ersten Idlerstrahlung durch Transformieren des von der Weglängendifferenz abhängigen Weglängeninterferenzmusters in das Frequenzspektrum erzeugt wird.
Inventor(s)
Wolf, Sebastian  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Kühnemann, Frank  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Lindner, Chiara  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Kießling, Jens  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Link to:
Espacenet
Patent Number
EP3792606 A1
Publication Date
March 17, 2021
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
  • Cookie settings
  • Imprint
  • Privacy policy
  • Api
  • Contact
© 2024