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Fraunhofer-Gesellschaft
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Patent
Title

Verfahren zur berührungslosen lokal aufgelösten Temperaturbestimmung an Oberflächen von Messobjekten und dazu ausgebildetes System

Abstract
Bei der Erfindung wird eine Oberfläche eines Messobjektes auf eine Farbkamera abgebildet, wobei die Abbildung auf die Farbkamera durch einen integrierten Bayer-Filter zur selektiven Erfassung von elektromagnetischer Strahlung in für die eingesetzte Farbkamera für jedes ihrer Pixel abgestimmte Wellenlängenbereiche angepasst wird. Zur Vermeidung einer Störung der erfassten Intensitätsmesswerte elektromagnetischer Strahlung entsprechend der jeweiligen Farbkamera mit minimaler gegenseitiger Störung der Farbkanäle der Farbkamera wird ein Bandpassfilter mit drei diskret voneinander getrennten, sich nicht überlappenden Durchlassbereichen für jeweils elektromagnetische Strahlung innerhalb eines Wellenlängenbereichs mit einer Bandbreite von jeweils mindestens 5 nm und ein optisches Filter zum Anpassen der Empfindlichkeit der jeweiligen Farbkanäle der Farbkamera eingesetzt. Dabei werden die erfassten Messsignale mittels einer elektronischen Auswerteeinheit unabhängig vom Emissionsgrad der Oberfläche so berücksichtigt, dass die in anderen Durchlassbereichen des Bandpassfilters hindurch tretende elektromagnetische Strahlung mit einer vom ausgewerteten Durchlassbereich abweichenden Wellenlänge, welche auf Pixel der Farbkamera mit abgebildet wird, nicht berücksichtigt wird.
Inventor(s)
Seifert, Marko  
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
Karsunke, Udo  
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
Pögen, Dirk  
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
Kaufmann, Christoph
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
Kühn, Stefan  
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
Link to:
Espacenet
Patent Number
DE102024204558 A1
Publication Date
November 20, 2025
Language
German
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
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