In-situ-Auflösung lichtinduzierter Degradationseffekte während Klimakammerexperimente durch Dunkelkennlinienmonitoring

Diese Arbeit beschäftigt sich mit den Möglichkeiten, durch das Monitoring von Dunkel-Strom-Spannungs-Kennlinien von Photovoltaikmodulen während Klimakammerexperimenten Informationen über Degradationsverläufe von Licht- und Temperaturinduzierter Degradation (Light and Elevated Temperature Induced Degradation, LETID) zu gewinnen. Hierzu werden zunächst Korrekturen an der gemessenen Kennlinie vorgenommen und anschließend Modellparameter des 2-Dioden-Modells, mit dem das Verhalten kristalliner Solarzellen häufig beschrieben wird, bestimmt. Aus dem Verlauf des Diodensättigungsstroms der ersten Diode, welches der sensitivste Parameter für den Einfluss durch LETID ist, werden erste Schätzwerte für die Reaktionsgeschwindigkeit eines Modultyps bei konstanten Testbedingungen bestimmt.