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Konferenzschrift
Optical stressing of 4H-SiC material and devices
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2017
Poster
Titel
Optical stressing of 4H-SiC material and devices
Titel Supplements
Poster presented at International Conference on Silicon Carbide and Related Materials, ICSCRM 2017, Washington, DC, September 17-22, 2017
Author(s)
Kallinger, Birgit
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB
Kaminzky, Daniel
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB
Berwian, Patrick
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB
Friedrich, Jochen
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB
Oppel, Steffen
Intego GmbH
Project(s)
SiC-WinS
Funder
Bayerische Forschungsstiftung BFS
Konferenz
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM) 2017
File(s)
N-470285.pdf (616.93 KB)
Language
English
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Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB
Tags
Silicon Carbide (SiC)...
defect
bipolar degradation
reliability
photoluminescence
imaging
