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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Detektion und Auffindwahrscheinlichkeit (POD) von Oberflächenfehlern
 
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2010
Conference Paper
Title

Detektion und Auffindwahrscheinlichkeit (POD) von Oberflächenfehlern

Abstract
Neben den klassischen ZfP-Verfahren zur Oberflächenprüfung setzen sich verstärkt optische Verfahren durch, da sie berührungslos arbeiten und vielfältige Möglichkeiten zur Online-Fehlererkennung und klassifikation mittels geeigneter Algorithmen bieten. Abhängig von der Güte und der Komplexität des Beleuchtungs- und (Video-) Kamerasystems werden unterschiedliche Auflösungen im Hinblick auf die Fehlergröße erreicht. Um verschiedene, in der Praxis eingesetzte Systeme quantitativ bewerten zu können, haben wir eine â versus a-Analyse zur Bestimmung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit (POD) an ebenen Testkörpern mit Bohrungen und Nuten unterschiedlicher Dimensionierung und Orientierung durchgeführt. Wir zeigen, dass die Anwendung komplexerer Sensorik und Algorithmik zu einer erheblichen Verbesse rung der POD führt und den Einsatz optischer Oberflächeninspektionsverfahren zur quantitativen ZfP im Bereich der automatischen Qualitätskontrolle unterstützt.
Author(s)
Rauhut, M.
Spies, M.
Taeubner, K.
Mainwork
Forum Bildverarbeitung  
Conference
Forum Bildverarbeitung 2010  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Techno- und Wirtschaftsmathematik ITWM  
Keyword(s)
  • Oberflächeninspektion

  • Optik

  • Fehler

  • Auffindwahrscheinlichkeit

  • Metall

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