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Konferenzschrift
Integrierte optische Vermessung und Oberflächenprüfung von 3-D-Objekten
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2006
Conference Paper
Titel
Integrierte optische Vermessung und Oberflächenprüfung von 3-D-Objekten
Author(s)
Maasland, M.
Teutsch, C.
Hauptwerk
Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung
Konferenz
Seminar Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung 2006
Language
German
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Fraunhofer-Institut für Techno- und Wirtschaftsmathematik ITWM