System and method for testing the surface of an object

Die vorliegende Erfindung betrifft ein System zum Prüfen einer Oberfläche eines Prüfobjekts aufweisend: eine Objektprüfstrecke, eine Objektbeleuchtungseinheit, die derart eingerichtet und angeordnet ist, dass sie in dem Betrieb des Systems das Prüfobjekt auf der Objektprüfstrecke mit elektromagnetischer Anregungsstrahlung mit einer ersten Wellenlänge beleuchtet, und eine Objekterfassungseinheit, die derart eingerichtet und angeordnet ist, dass sie in dem Betrieb des Systems von dem Prüfobjekt abgestrahlte elektromagnetische Lumineszenzstrahlung mit einer von der ersten Wellenlänge verschiedenen zweiten Wellenlänge erfasst, Objektdaten generiert und ausgibt. Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein solches System bereitzustellen, welches ohne aufwändiges Handling zum Positionieren des Prüfobjekts auskommt. Zur Lösung dieser Aufgabe wird vorgeschlagen, dass bei dem eingangs beschriebenen System die Objektbeleuchtungseinheit derart eingerichtet und angeordnet ist, dass sie das Prüfobjekt aus einer Mehrzahl von Raumrichtungen beleuchtet, die Objekterfassungseinheit derart eingerichtet und angeordnet ist, dass sie die Lumineszenzstrahlung von dem Prüfobjekt in einer Mehrzahl von Raumrichtungen erfasst, und die Objektprüfstrecke eine Flugstrecke ist, wobei das System derart eingerichtet und angeordnet ist, dass das Prüfobjekt in dem Betrieb des Systems die Objektprüfstrecke entlang fliegt.