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Fraunhofer-Gesellschaft
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2021
Journal Article
Title

Hohe Messraten, hochgenaue Messergebnisse

Title Supplement
Digitale Holographie in der Produktion
Abstract
Die digitale Mehrwellenlängenholographie hat sich zu einer der schnellsten und gleichzeitig genauesten Methoden zur Erfassung der Oberflächentopographie von Bauteilen in der Produktionslinie entwickelt. Sie ist vielseitig anpassbar und liefert bei hohen Messraten hochgenaue Messergebnisse.
Author(s)
Bertz, Alexander  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Journal
Quality Engineering  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Keyword(s)
  • Digitale Mehrwellenlängenholographie

  • Oberflächentopographie

  • Bauteilinspektion

  • Inline-Prüfung

  • Fertigungsmesstechnik

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