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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Geprüfte Oberflächen. Sub-µm Inline-3D-Oberflächenprüfung im Sekundentakt
 
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2016
Journal Article
Title

Geprüfte Oberflächen. Sub-µm Inline-3D-Oberflächenprüfung im Sekundentakt

Abstract
Metallische Produkte, die durch Tiefziehen oder andere Kaltumformungsprozesse entstehen, müssen sehr exakte 3D-Oberflächeneigenschaften aufweisen - z.B. auf Dichtflächen oder an Graten. Mit der digitalen Mehrwellenlängen-Holographie lassen sich Oberflächen direkt in der Fertigungslinie 3D vermessen - sub-µm-genau und extrem schnell. Spiegelnde und raue Metalloberflächen können dabei genauso geprüft werden wie auch viele Verbundwerkstoffe.
Author(s)
Fratz, Markus  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Beckmann, Tobias
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Bertz, Alexander  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Carl, Daniel  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Journal
InVision  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Keyword(s)
  • Oberflächenprüfung

  • Inline-Kontrolle

  • Mehrwellenlängen-Holographie

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