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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Präzise Fehlerdetektion mittels Deflektometrie. Beschichtungsfehlern mittels Spiegelung auf die Spur kommen
 
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2014
Journal Article
Title

Präzise Fehlerdetektion mittels Deflektometrie. Beschichtungsfehlern mittels Spiegelung auf die Spur kommen

Abstract
In der Oberflächentechnik findet man häufig stark glänzende Oberflächen, bei denen kleinste Beschichtungsfehler mit bloßem Auge erkennbar sind. Da der Mensch bei der Fehlererkennung Spiegelungen der Umgebung zur Bewertung heranzieht, erscheint für eine messtechnische Inspektion von lackierten und anderen stark glänzenden Oberflächen die Deflektometrie als besonders geeignetes Werkzeug. Deflektometrische Messverfahren weisen Inspektionsbereiche von mehreren 10 Quadratzentimetern und eine Höhenauflösung von unter 1 µm auf. Am Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOISB wurden unterschiedliche deflektometrische Messeinrichtungen entwickelt. Auf die Gewinnung deflektometrischer Messdaten und die Methodik der Oberflächenbewertung wird detailliert eingegangen. Im Beitrag werden Beispiele zur Inspektion von Karosserieteilen mit einer Messfeldgröße von etwa 1×1 m 2 gezeigt, bei denen Höhenabweichungen von deutlich unter 0,1 mm im Vergleich zum CAD-Modell oder Abweichungen von einer gewünschten Oberflächentextur zuverlässig erkannt werden konnten. Somit steht mit der Deflektometrie ein bildgestütztes Inspektionsverfahren zur Verfügung, das auf die Eigenschaften spiegelnder Flächen optimal angepasst ist. Wegen der hohen Empfindlichkeit der Deflektometrie können auch kleine und ästhetisch relevante Defekte zuverlässig erkannt werden.
Author(s)
Heizmann, Michael  
Werling, Stefan
Journal
Magazin für Oberflächentechnik : mo  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB  
Keyword(s)
  • Beschichtungsqualität

  • Fehlererkennung

  • Karosserieteil

  • Lackieren

  • Oberflächenprüfung

  • Oberflächentextur

  • optische Reflexion

  • Prüfeinrichtung

  • Qualitätskontrolle

  • Reflektometrie

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