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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Optische Rauheitsmessung
 
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1988
Journal Article
Title

Optische Rauheitsmessung

Abstract
Der steigende Bedarf der Oberflächenmeßtechnik an Verfahren mit der Möglichkeit schneller Meßwerterfassung (100 %-Prüfung), flächenhafter Prüfung (evtl. mit Defekterkennung) und leichter Automatisierbarkeit einerseits, spezielle Meßprobleme an extrem glatten sowie weichen Oberflächen andererseits beschleunigen die Entwicklung industriell einsetzbarer optischer Rauheitsmeßverfahren innerhalb der letzten Jahre. Im folgenden werden einige kommerzielle Geräte anhand der ihnen zugrunde liegenden Prinzipien dargestellt. (IPM)
Author(s)
Slavik, J.
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Höfler, H.  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Journal
F und M. Feinwerktechnik und Meßtechnik  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Keyword(s)
  • Autofokus-Verfahren

  • Heterodyn-Verfahren

  • Interferometrie

  • Phasenstift-Verfahren

  • Profilometer

  • Rauheitsmessung

  • Streulichtverfahren

  • Weißlicht-Speckle-Verfahren

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