Experimentelle und numerische Untersuchungen zum Verhalten von Rissen in X 6 Cr Ni 18 11 unter primären und sekundären Kriechbedingungen

Die Untersuchungen am X6 CrNi 1811 zeigen, daß die Kriechrißwachstumsgeschwindigkeit unabhängig von der Geometrie und Probengröße durch den Beanspruchungsparameter C-Integral über ein Potenzgesetz beschrieben werden kann. Eine Beschreibung durch den Spannungsintensitätsfaktor K liefern dagegen von der Probengröße bzw. Probengeometrie abhängige Rißwachstumskurven. Der Zusammenhang über das ermittelte Potenzgesetz entspricht dabei Modellvorstellungen von Riedel und von Nikbin u.a. unter der Annahme eines ebenen Spannungszustandes. Mit Finite-Element-Rechnungen bzw. C-Integral-Berechnungen unter der Annahme eines ebenen Spannungszustandes können die experimentell ermittelten Zeitverläufe der Verschiebungen V und des C-Integrals gut beschrieben werden. Dafür ist jedoch ein zuverlässiges, über einen weiten Bereich gültiges Kriechgesetz notwendig.