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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Defekterkennung an rotationssymmetrischen Teilen
 
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1999
Conference Paper
Title

Defekterkennung an rotationssymmetrischen Teilen

Abstract
Die Kombination von Streulichtmessung, Triangulation und adaptiver Signalfilterung erlaubt eine schnelle und sichere Erkennung von Oberflächendefekten. Defekte wie Risse, Kratzer und Quetschstellen an Produktionsteilen lassen sich mit Hilfe eines neu am IPM entwickelten Systems im Subsekundenbereich erkennen und auswerten. Das angewandte Verfahren beruht auf der Detektion und Analyse von rückgestreutem Laserlicht.
Author(s)
Wagner, E.
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Neske, E.
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Knoll, G.
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Höfler, H.  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Mainwork
Qualitätssicherung durch Meßtechnik und Bildverarbeitung  
Conference
Symposium Qualitätssicherung durch Meßtechnik und Bildverarbeitung 1999  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Keyword(s)
  • Defekterkennung

  • Oberflächenmeßtechnik

  • Streulichtmessung

  • Nullfehlerproduktion

  • Triangulationsmessung

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