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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. ESD - ein Baustein der Kontaminationskontrolle
 
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2000
Journal Article
Title

ESD - ein Baustein der Kontaminationskontrolle

Abstract
Grundvoraussetzung für die Herstellung kontaminationsempfindlicher Produkte ist idealerweise eine auf die Anforderungen des Produktes angepasste, kontaminationsfreie Fertigungsumgebung. Ein Beispiel aus der Elektronikfertigung ist die Bestückung von Leiterplatten mit Nacktchips, wie z.B. bei der Chip on Board- oder Flipchip-Verarbeitung in einer Laminar-Flowbox bzw. einem Reinraum. Je nach Anforderungen des Produkts kommen hier Luftreinheitsklassen zwischen 100 000 bis 100 nach US FED 209E zur Anwendung. Nach dem seit Januar 2000 gültigen Standard ISO 14644-1 entspricht dies den äquivalenten Luftreinheitsklassen zwischen 8 und 5.
Author(s)
Matuscheck, P.
Journal
Productronic  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA  
Keyword(s)
  • Kontaminationskontrolle

  • Luftreinheitsklasse

  • Kontamination

  • Fertigung

  • Elektronik

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