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1993
Conference Paper
Title
Integrierter CMOS-kompatibler Photosensor mit On-Chip Signalaufbereitung
Abstract
Der vorliegende Beitrag zeigt die Möglichkeiten der CMOS-Technologie zur Realisierung integrierter Photosensoren zusammen mit der dazugehörigen Auswerteelektronik. Die monolithische Integration verbessert die untere Auflösungsgrenze deutlich, da insbesondere die durch externe Komponenten verursachten Leckströme (Isolationswiderstände) wegfallen. Weiterhin kann die Anordnung und Dimensionierung des oder der Photodioden den Anforderungen entsprechend angepaßt werden. Beide Vorzüge zeigen den vorteilhaften Einsatz der CMOS-Technologie für photometrische Anwendungen.
Conference
Language
German