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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Bauelemente-Entwicklung unter EMV-Gesichtspunkten
 
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1991
Conference Paper
Titel

Bauelemente-Entwicklung unter EMV-Gesichtspunkten

Abstract
Mit zunehmender Verbreitung der Mikroelektronik wird deren EMV in vielen Anwendungsgebieten zu einem entscheidenden Kriterium. Unter den Aspekten der Funkentstörung und der Störempfindlichkeit werden die grundsätzlichen Randbedingungen der monolithischen Integration untersucht.
Author(s)
Fiedler, H.-L.
Hauptwerk
EMV 91. Störfestigkeit leittechnischer Einrichtungen
Konferenz
VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik (Fachtagung) 1991
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Language
German
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Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS
Tags
  • elektromagnetische Ve...

  • EMV

  • Störstrahlung

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