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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Streulichtanalyse zur Prüfung auf Nanopartikel-Fraktionen
 
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2016
Journal Article
Title

Streulichtanalyse zur Prüfung auf Nanopartikel-Fraktionen

Title Supplement
Erstes System zur kostengünstigen Vor-Ort-Überwachung
Abstract
Das Fraunhofer ICT-IMM entwickelte im Auftrag und in Kooperation mit dem Industriekonsortium SASforREACH einen Aufbau zur Streulichtanalyse, der es Auftragslaboratorien ermöglicht, mit geringem personellem und finanziellem Aufwand kleinste nanopartikuläre Fraktionen in wässrigen Lösungen aufzuspüren. Interessant ist dies z. B. für Löslichkeitsuntersuchungen an synthetisch amorphen Silica-Produkten, einem Anwendungsbeispiel für die Klasse der nanostrukturierten Materialien. Gleichzeitig öffnet es die Tür für eine kostengünstige Vor-Ort-Überwachung der Nanopartikel-Belastung im Wasser.
Author(s)
Frese, Ines  
Bantz, Christoph  
Nolde, J.
Reisinger, M.
Heinemann, M.
Affolter, O.
Journal
Sensor-Magazin  
Language
German
ICT-IMM  
Keyword(s)
  • Streulichtanalyse

  • nanoparticle

  • silica nanoparticles

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