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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Submikrometergenaue 3D-Oberflächenmessung in der Produktion
 
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2021
Book Article
Title

Submikrometergenaue 3D-Oberflächenmessung in der Produktion

Author(s)
Fratz, Markus  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Seyler, Tobias  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Schiller, Annelie  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Bertz, Alexander  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Mainwork
Leitfaden zur optischen 3D-Messtechnik  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Keyword(s)

  • Optische 3D-Messtechnik

  • 3D-Oberfllächenmessung

  • Oberflächenmessung

  • digitale Holographie

  • Inline-Messtechnik

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