Den Mikrorissen auf der Spur

Während des Fertigungsprozesses sind die teuren und daher möglichst dünnen Silizium-Wafer hohen mechanischen Belastungen ausgesetzt. Die dabei entstehenden, kaum sichtbaren Beschädigungen spürt ein Inline-Prüfsystem des Fraunhofer IPA, Stuttgart, auf Basis der Wärmefluss-Thermographie auf. Mit diesem System lassen sich selbst feine Mikrorisse in Solarzellen detektieren.