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FEM-basierte Zuverlässigkeitsprognostik für die Verbindungstechnik in der Leistungselektronik
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2013
Book Article
Title
FEM-basierte Zuverlässigkeitsprognostik für die Verbindungstechnik in der Leistungselektronik
Author(s)
Dudek, Rainer
Döring, Ralf
Seiler, B.
Mainwork
Jahrbuch Mikroverbindungstechnik 2013/2014
Language
German
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS
