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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. EUV Schwarzschild-Objektiv
 
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2005
Journal Article
Title

EUV Schwarzschild-Objektiv

Abstract
Schwarzschild-Objektive werden wegen ihrer großen Apertur, der Freiheit von chromatischen Aberrationen und ihrer hohen mechanischen Stabilität zunehmend zur Strahlformung im extrem ultravioletten (EUV) und weichen Röntgenbereich eingesetzt. Die Einsatzmöglichkeiten derartiger Objektive sind vielfältig und reichen von Anwendungen für die EUV-Lithographie bei 13,5 nm über die Grundlagenforschung mit Synchrotronstrahlung bis zu Abbildungsoptiken für Röntgenlaser
Author(s)
Feigl, T.
Journal
Photonik  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
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