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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Interferometrische Verfahren zur Rauhheitsmessung
 
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1990
Journal Article
Title

Interferometrische Verfahren zur Rauhheitsmessung

Abstract
Es werden Verfahren zur Messung der Oberflächenrauheit beschrieben, die die Lichtwellenlänge zur Messung benutzen und auf Interferenzerscheinungen beruhen. Diese Verfahren werden bisher zur Messung sehr glatter Oberflächen eingesetzt. Die Messprinzipien sowie die Vor- und Nachteile dieser Verfahren werden dargestellt.
Author(s)
Broermann, Ernst
Pfeifer, Tilo
Journal
Laser und Optoelektronik  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnologie IPT  
Keyword(s)
  • Interferometrie

  • Meßtechnik

  • Oberflächenrauheit

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