Digitale Mehrwellenlängen-Holografie für makroskopische Topografien in mikroskopischer Genauigkeit

Optische Systeme für die Vermessung dreidimensionaler Oberflächen sind für die Inline-Inspektion oft zu langsam oder zu ungenau. Deshalb hat Fraunhofer IPM Inspektionssysteme entwickelt, die auf digitaler Mehrwellenlängen-Holografie basieren. Die Systeme zeichnen sich durch extrem kurze Messzeit und hohe Genauigkeit aus und sind daher für die 100-Prozent-Kontrolle in der Fertigungslinie geeignet.

Optical systems for measuring three-dimensional surfaces are often too slow or too imprecise for inline inspection. That´s why Fraunhofer IPM has developed inspection systems based on multi-wavelength holography. Distinctive for their extremely short measuring times and high precision, the systems are suitable for 100 percent monitoring on production lines.