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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Einsatz von Halbleiterlasern in der Messtechnik - Optische Rauheitsmessung mittels Speckle-Kontrastverfahren
 
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1982
Conference Paper
Title

Einsatz von Halbleiterlasern in der Messtechnik - Optische Rauheitsmessung mittels Speckle-Kontrastverfahren

Author(s)
Ahlers, R.-J.
Mainwork
Optoelektronik in der Technik  
Conference
Internationaler Kongress Laser 1981  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA  
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