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Konferenzschrift
Einsatz von Halbleiterlasern in der Messtechnik - Optische Rauheitsmessung mittels Speckle-Kontrastverfahren
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1982
Conference Paper
Title
Einsatz von Halbleiterlasern in der Messtechnik - Optische Rauheitsmessung mittels Speckle-Kontrastverfahren
Author(s)
Ahlers, R.-J.
Mainwork
Optoelektronik in der Technik
Conference
Internationaler Kongress Laser 1981
Language
German
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA