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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Temperaturfeste Bauelemente auf Siliziumbasis
 
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1991
Journal Article
Title

Temperaturfeste Bauelemente auf Siliziumbasis

Abstract
Integrierte Schaltkreise auf Silizium zeichnen sich nicht durch zunehmende Integrationsdichte, sondern auch durch eine zunehmende Komplexität der integrierten Funktionen aus. Außerdem steigen jedoch die Anforderungen an die Schaltkreise bezüglich ihres Einsatzes auch unter extremen Umgebungsbedingungen. Dazu gehört die Forderung, integrierte Schaltkreise auch bei Temperaturen oberhalb von 150xC betreiben zu können. Der CMOS-Technologie auf konventionellen Silizium-Substraten sind hier Grenzen gesetzt. Diese Grenzen können durch die SOI (Silicon on Insulator)-Technologie überwunden werden.
Author(s)
Burbach, G.
Journal
Mikroelektronik : me  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Keyword(s)
  • CMOS-Bauelement

  • Hochtemperaturelektronik

  • SIMOX

  • SOI

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