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1998
Journal Article
Title
Die Barkhausen- und Wirbelstrommikroskopie, eine neue Rastersondentechnik zur Werkstoffcharakterisierung im Mikrometerbereich
Other Title
Barkhausen Noise and Eddy Current Microscopy, a new Scanning Probe Technique for Nanoscale Charcaterization of materials
Abstract
In der Werkstoffentwicklung werden zunehmend höhere Anforderungen an die laterale Auflösung und an quantitative Prüfaussagen gestellt. Von besonderem Interesse sind hier Gefügecharakterisierung, Mikrofehlerdetektion sowie die Ermittlung der Verteilung mechanischer Eigenschaften wie Eigenspannung oder Härte. Diesem Bedarf wird durch die Entwicklung hochauflösender zerstörungsfreier Prüfverfahren entsprochen, die z.B. auf magnetischen und elektrischen Wechselwirkungen basieren, wie das Barkhausenrausch- und Wirbelstrommikroskop, genannt BEMI (Barkhausen Noise and Eddy Current Microscopy). Ein Hauptvorteil dieser Mikroskopietechnik liegt in der schnellen und ortsaufgelösten Eigenspannungsmessung. Die derzeit erzielten Meßzeiten liegen deutlich unter denjenigen der Röntgenographischen Eigenspannungsmessung.
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