Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle

Die industrielle Inline Qualitätskontrolle erfordert in zunehmendem Maße die schnelle, berührungslose, hochpräzise topographische Erfassung unterschiedlichster Freiformflächen und Materialen. Messungen an teilweise spiegelnden und optisch rauen Oberflächen, z. T. mit steilen Kanten, stellen dabei besondere Herausforderungen an optische Messverfahren dar. Es werden Ergebnisse von Messungen mit digitalholographischer Mehrwellenlängen-Holographie präsentiert und Vor- und Nachteile der Kombination mit verschiedenen Phasenschiebeverfahren diskutiert.