Effektive Fehlerdiagnose von Strukturen mit Digital-Analog/Analog-Digital-Konvertern mit einem Cloud-basierten Workflow

Eine hochkomplexe und zeitaufwändige Aufgabe beim Entwurf integrierter Mixed-Signal-Schaltkreise ist die Fehlerdiagnose. Der vorliegende Beitrag stellt einen auf Cloud-Technologien basierenden Lösungsansatz vor, der Fehler in für solche Schaltkreise typischen Strukturen aus Analog-Digital- und Digital-Analog-Wandlern lokalisiert. Das Diagnoseverfahren (Ergebnis des BMBF-Projektes DIANA) beruht auf dem sogenannten Loop-Back-Test, der zwar die Generierung von Testdaten vereinfacht, aber eine Vielzahl von Variantensimulationen mit verschiedenen Simulationsprinzipien und erheblichen Datenmengen erfordert. Diese sollen nunmehr problemangepasst und damit effizient in der Cloud realisiert werden. Für die entsprechende Informationsverarbeitung in der Cloud wurde das in dem Projekte OptiNum-Grid entwickelte Framework GridWorker adaptiert. Experimente mit ersten Anwendungsbeispielen bestätigen die Leistungsfähigkeit und Praktikabilität des Ansatzes für daten- und verarbeitungsintensive Schaltkreisentwurfsaufgaben.