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Abschlussarbeit
Über die dimensionelle Charakterisierung von Gitterstrukturen auf Fotomasken mit einem neuartigen DUV-Scatterometer
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2008
Doctoral Thesis
Title
Über die dimensionelle Charakterisierung von Gitterstrukturen auf Fotomasken mit einem neuartigen DUV-Scatterometer
Thesis Note
Jena, Univ., Diss., 2008
Author(s)
Wurm, M.
Publishing Place
Jena
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Language
German
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF