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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Pattern recognition : 28th DAGM Symposium. Proceedings
 
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2006
Conference Proceeding
Title

Pattern recognition : 28th DAGM Symposium. Proceedings

Title Supplement
Berlin, Germany, September 12-14, 2006
Person Involved
Franke, K.
Müller, K.R.
Nickolay, B.
Schäfer, R.
Corporate Author
Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung -DAGM-
Publisher
Springer  
Publishing Place
Berlin
Conference
Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung (Symposium) 2006  
Language
English
FIRST
Fraunhofer-Institut für Nachrichtentechnik, Heinrich-Hertz-Institut HHI  
Fraunhofer-Institut für Produktionsanlagen und Konstruktionstechnik IPK  
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