1995
Doctoral Thesis
Title

Charakterisierung von Siliciumoberflächen mittels Röntgenfluoreszenzanalyse unter Totalreflektionsbedingungen

Thesis Note
Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 1995
Author(s)
Streckfuß, N.
Publisher
Publishing Place
Aachen
Language
German