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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Charakterisierung von Schichten und Platten
 
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2011
Journal Article
Title

Charakterisierung von Schichten und Platten

Title Supplement
Zerstörungsfreie und berührungslose Prüfung mit Hilfe von Mikrowellen
Other Title
Characterization of layers and sheets - nondestructive and contactless testing with the help of microwaves
Abstract
Mit Hilfe von Mikrowellen lassen sich die unterschiedlichsten Werkstoffe in Form von Schichten, Platten oder Objekten komplexer Geometrie hinsichtlich ihrer Materialeigenschaften, Fehler und Geometrie charakterisieren. Die Prüfung erfolgt zerstörungsfrei und kann berührungslos und schnell durchgeführt werden. Im Durchstrahlungsmodus können nichtmetallische und elektrisch schwach leitende Werkstoffe bis zu einer Dicke von mehreren cm untersucht werden, metallische Werkstoffe dagegen je nach Leitfähigkeit bis zu einer Dicke von mehreren µm oder nm. Im Reflexionsmodus lassen sich auch elektrisch stärker leitende Materialien prüfen.
Author(s)
Sklarczyk, Christoph
Journal
Vakuum in Forschung und Praxis  
DOI
10.1002/vipr.201100453
Language
German
Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFP  
Keyword(s)
  • Messtechnik

  • zerstörungsfreie Prüfung

  • Mikrowelle

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