• English
  • Deutsch
  • Log In
    Password Login
    Research Outputs
    Fundings & Projects
    Researchers
    Institutes
    Statistics
Repository logo
Fraunhofer-Gesellschaft
  1. Home
  2. Fraunhofer-Gesellschaft
  3. Konferenzschrift
  4. Fehlerdiagnose für ADCs und DACs in einer Loop-Back-Struktur unter Einbeziehung von Parametervariationen
 
  • Details
  • Full
Options
2013
Conference Paper
Title

Fehlerdiagnose für ADCs und DACs in einer Loop-Back-Struktur unter Einbeziehung von Parametervariationen

Abstract
Es wird ein Ansatz zur Fehlerdiagnose für in einer Loop-Back-Struktur angeordnete ADCs und DACs unter Einbeziehung von Parametervariationen vorgestellt. Mit Monte-Carlo-Simulationen für den fehlerfreien Fall und die fehlerbehafteten Fälle werden der Einfluss der Parametervariationen auf die Übertragungskennlinien der Loop-Back-Struktur berechnet und Kennlinienscharen erzeugt. Aus den Übertragungskennlinien werden typische Kenngrößen extrahiert und zu Fehlersignaturen zusammengefasst. Grundlage für die Fehlerdiagnose bilden dann Verteilungen der Kenngrößen und Min-Max-Intervalle der Fehlersignaturen. Ein Anwendungsbeispiel wird beschrieben.
Author(s)
Gulbins, Matthias
Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS  
Vermeiren, Wolfgang
Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS  
Redlich, Stefan
Infineon Technologies Duisburg
Mainwork
Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen. 25. GI/GMM/ITG-Workshop 2013  
Project(s)
DIANA
Funder
Bundesministerium für Bildung und Forschung BMBF (Deutschland)  
Conference
Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen 2013  
File(s)
Download (157.25 KB)
Rights
Use according to copyright law
DOI
10.24406/publica-fhg-379938
Language
German
Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS  
  • Cookie settings
  • Imprint
  • Privacy policy
  • Api
  • Contact
© 2024