Zerstörungsfreie Charakterisierung des Eigenspannungszustandes mit der Metall Memory Method (MMM)

Die Metal Magnet Memory Method (MMM) misst mittels Flux Gate Sensoren die Normal- und/oder Tangentialkomponente des remanenten Magnet-feldes als Funktion der Zeit und/ oder des Messortes und erlaubt die Darstellung der Messergebnisse über die Zeit- und/oder Ortskoordinaten. Der Hersteller empfiehlt das Verfahren zur schnellen Feststellung von örtlichen Inhomogenitäten des Gefüge- und (Eigen-) Spannungszustandes in einer oberflächennahen Zone des untersuchten Bauteils. Da das etablierte Röntgendiffraktions- und alle Varianten des Bohrloch- und Ringkernverfahrens rund 10 Minuten zur Spannungsanalyse an einem Mess-punkt benötigen, die neueren mikromagnetischen und Ultraschallverfahren zwar deutlich höhere Messraten haben, aber für konkrete Anwendung angepasst werden müssen, erscheint die MMM eine wirtschaftliche Alternative zu sein, um an großen Bauteilen Spannungsinhomogenitäten und Spannungskonzentrationen für eine nachfolgende quantitative Spannungsanalyse mit einen der genannten Verfahren zu lokalisieren. Halbzeuge und Bauteile mit Eigenspannungen wurden mit der MMM untersucht und die Ergebnisse denen der mikromagnetischen und Ultraschallver-fahren gegenübergestellt. Wenngleich es nicht an allen Messstellen eine zweifels- freie Übereinstimmung gab, erscheint die MMM dennoch als Screening Verfahren zur schnellen Voruntersuchung und Lokalisierung von Änderungen des Spannungs-zustandes geeignet.