Charakterisierung und Modellierung eines µCT-Systems

Neben der stetigen Weiterentwicklung der industriellen Computertomographie (CT) als Mess- und Prüfmittel ist die Bestimmung der Messunsicherheit für dimensionelle CT-Messungen ein wesentlicher Forschungsgegenstand. Eine Möglichkeit, die Messunsicherheit für CT-Messungen zu bestimmen, ist als Simulationsmethode im GUM (SP1) [1] beschrieben. Diese Methode setzt die realitätsnahe Simulation des gesamten Messprozesses voraus. Um das Verfahren in der CT einzusetzen, müssen alle wesentlichen physikalischen Effekte modelliert und die Simulation an das verwendete CT-System angepasst werden. In diesem Beitrag werden Messungen zur physikalischen Charakterisierung eines CT-Systems, die Modellierung eines deterministischen CT-Simulators sowie Möglichkeiten zur Validierung von Simulationsergebnissen vorgestellt.