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Multischicht-Röntgenoptiken. Präzision im Nanometerbereich
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2008
Book Article
Title
Multischicht-Röntgenoptiken. Präzision im Nanometerbereich
Author(s)
Dietsch, R.
König, A.
Ziemer, J.
Mainwork
Fokus Technologie. Chancen erkennen, Leistungen entwickeln
Language
German
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS
