Konzept für ein selbsteinmessendes optisches 3D-Meßsystem auf der Basis strukturierter Beleuchtung

Voraussetzung für eine Koordinatenberechnung in optischen 3D-Meßverfahren mit strukturierter Beleuchtung ist die Kenntnis der Systemparameter des verwendeten Meßsystems. In der Streifenprojektion erfolgt deren Bestimmung meist in einem Einmeßvorgang vor dem Meßprozeß unter Verwendung zusätzlicher Hilfsmittel wie z.B. Kalibriernormalen. Daraus resultieren zwei Nachteile. Erstens wird durch sie die Genauigkeit der späteren Messung bestimmt, und zweitens ist ihre Handhabung insbesondere bei größeren Objektvolumina schwierig. Im Vortrag soll ein neuartiges Streifenprojektionssystem vorgestellt werden, das sich an Prinzipien der Photogrammetrie anlehnt und sowohl Koordinaten als auch Systemparameter simultan bestimmt. Eine feste Meßkonfiguration ist nicht mehr nötig. Erste Ergebnisse werden vorgestellt, es wird auf Vorteile und Probleme eingegangen.