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Fraunhofer-Gesellschaft
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2019
Conference Paper
Titel

Inline-Qualitätsüberwachung beschichtet, metallischer Bipolarplatten nach dem Umformprozess

Abstract
Metallische Bipolarplatten (BPP) rücken immer mehr in den Fokus der Forschung. Daher stellt die Entwicklung geeigneter Methoden zur Inline-Qualitätsüberwachung eine wichtige Aufgabe dar. So sind unterschiedliche Beschichtungsverfahren und -strategien in der Entwicklung, die verschiedene funktionelle Eigenschaften des Produktes ermöglichen sollen. Sowohl nach dem Beschichtungsprozess, als auch dem nachgelagerten Umformprozess muss die Realisierung einer homogenen und fehlerfreien Schutzschicht gewährleistet sein. Die notwendige lückenlose Überprüfung der Oberflächen erzeugt dabei aufgrund der erforderlichen optischen Analyse in Verbindung mit angestrebten hohen Durchsatzraten in der Produktion große Datenmengen zur Auswertung. Um die Fehlererkennung im Produktionstakt zu ermöglichen, kommen massiv parallele Hardwarestrukturen (Multi-Core-CPUs, GPUs) zum Einsatz. Zusätzlich zu den Hardwarestrukturen werden auch dafür optimierte Auswertungsverfahren zur Erkennung BPP-spezifischer Oberflächen- und Beschichtungsfehler benötigt. Mit Hilfe optischer Sensorik können neben Mikrorissen in der Grundstruktur auch Schichtdefekte in der Oberfläche im Takt detektiert werden. Somit wird die Weitergabe defekter BPP an die Montage erfolgreich verhindert.
Author(s)
Wiener, Thomas
Fraunhofer-Institut für Werkzeugmaschinen und Umformtechnik IWU
Pierer, Alexander
Fraunhofer-Institut für Werkzeugmaschinen und Umformtechnik IWU
Gjakova, Leutrim
Fraunhofer-Institut für Werkzeugmaschinen und Umformtechnik IWU
Hoffmann, Michael
Fraunhofer-Institut für Werkzeugmaschinen und Umformtechnik IWU
Barthel, Sven
Fraunhofer-Institut für Werkzeugmaschinen und Umformtechnik IWU
Hauptwerk
FC³ - 1st Fuel Cell Conference Chemnitz 2019. Konferenzband
Konferenz
Fuel Cell Conference Chemnitz (FC³) 2019
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Language
German
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Fraunhofer-Institut für Werkzeugmaschinen und Umformtechnik IWU
Tags
  • Bipolarplatte

  • Inline-Qualitätsüberwachung

  • Parallelisierung

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