1995
Diploma Thesis
Title

Untersuchung von Defekten in Verbindungshalbleitern mit abbildenden Photolumineszenzverfahren

Thesis Note
Freiburg/Brsg., Univ., Dipl.-Arb., 1995
Author(s)
Forker, J.
Publishing Place
Freiburg/Brsg.
Language
German
Keyword(s)