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2013
Journal Article
Title
Verformung von Mikrosystemen bei hohen Temperaturen
Abstract
Mit Hilfe von FE-Simulationen lassen sich zuverlässig Aussagen über Einflüsse und daraus resultierende Belastungen auf ein System treffen. Die Verifikation der Simulationen erfolgt durch optische Messsysteme. Hierzu wurden ein ESPI- und ein DIC-System etabliert.
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