Qualitätssicherung keramischer Werkstoffe und Komponenten hochauflösende zerstörungsfreie Prüfung, insbesondere der Oberfläche von keramischen Bauteilen

Im Berichtszeitraum erfolgte die zerstoerungsfreie Charakterisierung von gesinterten bzw. gasdruckgesinterten SiC- und Si3N4-Biegestaeben. Die Arbeiten befassten sich in erster Linie mit dem Verfahren der photoakustischen Mikroskopie. Nur in 6 von 70 Staeben konnte mit dem Verfahren an der Oberflaeche bzw. im oberflaechennahen Bereich keine Fehleranzeige festgestellt werden. Neben der photoakustischen Mikroskopie (PAM) wurden die Mikrofokus-Roentgentechnik und die Ultraschallmikroskopie in der Version des "Skanning Laser Acoustic Microscope" (SLAM) zur Fehlerpruefung eingesetzt. Mit dem SLAM konnten viele Fehleranzeigen an der Oberflaeche der Staebchen gefunden werden, wohingegen die Mikrofokus-Roentgentechnik weniger lieferte. Nach den Ergebnissen der PAM (Fehlerhaeufigkeit) wurde die Zugstelle festgelegt. Die Proben werden anschliessend im Institut fuer Zuverlaessigkeit und Schadenskunde im Maschinenbau gebrochen und bruchmechanisch bewertet. Im Berichtszeitraum stand ausserdem die z erstoerungsfreie Pruefung von gruener Keramik an. Fuer erste Untersuchungen wurden Mikrofokus-Roentgen und Kernspinresonanz eingesetzt. Mit ersterem konnten Fehler in den Gruenteilen nachgewiesen werden, letzteres lieferte fuer vorbehandelte ("trockene") Keramik kein verwertbares Signal. (IZFP)