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Einfluss von bleifreiem Lot auf den Test elektronischer Baugruppen. Tl.2
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2003
Journal Article
Title
Einfluss von bleifreiem Lot auf den Test elektronischer Baugruppen. Tl.2
Author(s)
Diersing, T.
Feuerstein, R.
Gailing, E.
Göpel, H.
Holzmann, R.
Kiel, T.
Pape, K.
Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT
Roth, H.
Tschimpke, L.
Journal
Produktion von Leiterplatten und Systemen : PLUS
Language
German
Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT