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Abschlussarbeit
Defekterkennung an Oberflächen mittels Waveletmethoden
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2000
Doctoral Thesis
Title
Defekterkennung an Oberflächen mittels Waveletmethoden
Thesis Note
Jena, Univ., Diss., 2000
Author(s)
Recknagel, R.-J.
Publishing Place
Jena
Language
German
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF
Keyword(s)
Festkörperoberfläche
wavelet