Statistische Parasitics-Extraction und Crosstalk-Noise

Crosstalk-Noise gewinnt in modernen Fertigungstechnologien im Bereich unter 100nm zunehmend an Bedeutung, da sich sowohl verringerte Leitungsabstände als auch das ungünstige Verhältnis aus Leitungsbreite zu Leitungshöhe stark negativ auf das Schaltverhalten und die korrekte Funktion sowie den Energieverbrauch der Schaltung auswirken. Da in sub-100nm Technologien nicht nur Crosstalk-Noise-Effekte sondern auch Parameterschwankungen zunehmen, ist es unumgänglich, diese bei der Analyse mit zu berücksichtigen. Keine der bekannten Ansätze liefert dazu eine befriedigende Lösung. Hier wird eine Methode vorgestellt, mit der technologiebedingte Parameterschwankungen in Leistungsstrukturen auf RC-Ersatzschaltung abgebildet werden können.