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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Abdeckungskriterien in der modellbasierten Testfallgenerierung
 
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2006
Conference Paper
Title

Abdeckungskriterien in der modellbasierten Testfallgenerierung

Title Supplement
Stand der Technik und Perspektiven
Abstract
Zur Beurteilung der Qualität von Testsuiten ist der Abdeckungsgrad ein wichtiges Kriterium. Beim modellbasierten Blackbox-Test wird dabei nicht die Abdeckung im Ziel-Code, sondern in der Spezifikation gemessen. Wir beschreiben anhand eines konkreten Beispiels die von aktuellen Testfallgenerierungswerkzeugen erreichte Abdeckung und argumentieren, dass eine zusätzliche Metastrategie für die Kombination von Abdeckungskriterien erforderlich ist.
Author(s)
Friske, M.
Schlingloff, B.H.
Mainwork
Dagstuhl-Workshop MBEES, Modellbasierte Entwicklung eingebetteter Systeme II 2006. Tagungsband  
Conference
Workshop Model-Based Development of Embedded Systems (MBEES) 2006  
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Language
German
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