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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Bestimmung der Messunsicherheit im Mikrometer-Bereich - Strategien, Modelle und Einflussfaktoren
 
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2011
Book Article
Title

Bestimmung der Messunsicherheit im Mikrometer-Bereich - Strategien, Modelle und Einflussfaktoren

Abstract
Die Entwicklung von neuen Mess- und Prüfstrategien erfordert eine Bewertung der Messunsicherheit dieser Strategien, um die Aussagekraft der Messwerte quantifizieren und darauf basierend Entscheidungen ableiten zu können. Dies gilt insbesondere für den Einsatz der Strategien bei der Produktion von Mikrosystemen und Nanostrukturen. In diesen Größenordnungen gibt es bislang nur wenige Beispiele für Handlungsanweisungen, um die Messunsicherheit zu bestimmen. Anhand verschiedener praktischer Beispiele wird dargestellt, wie eine aufgabenangepasste Bestimmung der Messunsicherheit erfolgen kann.
Author(s)
Tan, Özgür
Universität Erlangen, Lehrstuhl QFM
Krah, Thomas
Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB
Neuschaefer-Rube, Ulrich
Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB
Ehrig, Wiebke
Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB
Herffurth, Tobias  
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
Schröder, Sven  
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
Lyda, Wolfram
Universität Stuttgart, Institut für Technische Optik
Eigenbrod, Hartmut  
Hoffmann, R.
Weißensee, Karina
TU Ilmenau, Fachgebiet Qualitätssicherung
Apel, Sebastian
TU Ilmenau, Fachgebiet Qualitätssicherung
Pedrini, Giancarlo
Universität Stuttgart, Institut für Technische Optik
Gaspar, J.
Schrader, Christian
TU Braunschweig, IRPOM
Zschiegner, N.
Mainwork
Neue Strategien der Mess- und Prüftechnik für die Produktion von Mikrosystemen und Nanostrukturen  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA  
Keyword(s)
  • Messunsicherheit

  • Mikrosystemtechnik

  • Guide for the Uncertainty of Measurement (GUM)

  • Messen

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