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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Cleanroom suitability of materials and equipments
 
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2011
Conference Paper
Title

Cleanroom suitability of materials and equipments

Abstract
For the assessment of the Cleanroom and Cleanliness Suitability of materials for their use in cleanliness sensitive environments the particle emission, the VOC spectrum and as well the cleanability of surfaces have to be determined. The presentation gives an overview about possible methodologies, measurement strategies, assessment techniques and algorithms. To illustrate the topic examples from different industrie branches will be shown.

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Zur Bestimmung des Reinraum- und Reinheitstauglichkeitesverhaltens von Werkstoffen für sauberkeitskritische Produktionsumgebungen müssen das Partikelemissionsverhalten, das VOC-Spektrum als auch die Reinigbarkeit von Oberflächen bestimmt werden. Der Vortrag gibt einen Abriss über mögliche Vorgehenweisen, Messstrategien, Bewertungstechniken und -algorithmen. Zur Veranschaulichung werden Beispiele aus unterschiedlichen Anwendungsszenarien herangezogen.
Author(s)
Gommel, Udo  
Mainwork
Newest innovations for semiconductor industry from Saxony and Japan for better energy efficiency  
Conference
Workshop "Newest Innovations for Semiconductor Industry from Saxony and Japan for better Energy Efficiency" 2011  
DOI
10.24406/publica-fhg-374311
File(s)
004.pdf (1.7 MB)
Rights
Under Copyright
Language
English
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA  
Keyword(s)
  • cleanroom suitable materials (CSM)

  • Reinraumtauglichkeit

  • VDI 2083 Blatt 17

  • tested device

  • Reinheitsspezifikation

  • Volatile Organic Compound (VOC)

  • Reinigbarkeitsbewertung

  • Halbleiterindustrie

  • Reinraum

  • Halbleiter

  • Reinheit

  • Werkstoff

  • Teilchen

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